| 양자 초표면 영상 에지 검출 | ||
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  중국과학기술대학교 Guo Guang-can(郭光燦) 연구팀은 국내외 연구 기관과 공동으로 고품질 편광 얽힘원 및 고효율 매질 초표면을 이용하여 검사할 영상 상태의 정상 모드와 에지 검출 모드에서의 원격 전환을 달성했다. 아울러 미약한 광학 필드(Optical field) 조명 조건에서 얽힘 광자 조명이 직접 단일 광자 조명보다 더 높은 신호 대 잡음비를 가짐을 입증했다. 해당 성과는 "Science Progress"에 온라인으로 게재되었다. 연구팀은 비선형 과정에 기반한 비전형적 양자 광원의 제조와 응용에 관련한 장기간의 연구를 통해 다양한 고품질 쌍광자 얽힘원을 제조하였고 얽힘원의 각 매개변수는 모두 국제 선두 수준에 도달했다. 연구팀은 편광 얽힌 양자 광원의 제조 및 표징 분야에서의 자체적 기술 우위와 협력 기관의 고효율 전매질 초표면 분야에서의 기술 우위를 이용하여 양자 초표면 영상 에지 검출을 달성했다. 또한 양자 얽힘 광학 필드 조명 조건에서 영상 상태 원격 전환 가능성과 높은 신호 대 잡음비의 특성을 보여주었다. 해당 성과는 초표면 연구의 영상 에지 검출 분야에서의 한차례 시도이며 영상 암호화 및 스테가노그래피(Steganography)에서 잠재적인 응용 전망이 있다. 또한, 효소반응 추적 및 생물 유기체 세포의 관찰 등 광자 조명이 부족한 정경에서 높은 신호 대 잡음비로 장점을 보여준다. 해당 연구는 더 많은 양자 광학과 초표면 재료 결합의 관련 연구를 촉진시킬 전망이다. 정보출처 : https://www.cas.cn/cm/202012/t20201230_4772867.shtml |
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